無錫磁粉無損探傷
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磁粉檢測的基礎是缺陷的漏磁場與外加磁粉的磁相互作用，及通過磁粉的聚集來顯示被檢工件表面上出現的漏磁場，在根據磁粉聚集形成的磁痕的形狀和位置分析漏磁場的成因和評價缺陷。
常用的無損探傷方法有:X光射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷、渦流探傷、γ射線探傷、螢光探傷、著色探傷等方法。
磁粉探傷的種類
1、按工件磁化方向的不同，可分為周向磁化法、縱向磁化法、復合磁化法和旋轉磁化法。
2、按采用磁化電流的不同可分為:直流磁化法、半波直流磁化法、和交流磁化法。
3、按探傷所采用磁粉的配制不同，可分為干粉法和濕粉法。
磁粉探傷的原理
基本原理是:當工件磁化時，若工件表面有缺陷存在，由于缺陷處的磁阻增大而產生漏磁，形成局部磁場，磁粉便在此處顯示缺陷的形狀和位置，從而判斷缺陷的存在。
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