深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家專注于商務(wù)服務(wù)、軟件開發(fā)領(lǐng)域研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè),憑借強大的研發(fā)力量、嚴謹?shù)纳a(chǎn)管理經(jīng)驗以及“質(zhì)量第一、信譽第一”的經(jīng)營理念,成功地開發(fā)出一系列擁有各項專利的高質(zhì)量產(chǎn)品,比如膜厚分析儀、XRFx2034d9n等。
   禾苗分析膜厚分析儀的優(yōu)勢在于能夠全面深入地根據(jù)客戶的實際需求和現(xiàn)實問題,及時準確地提供專業(yè)的解決方案。同時,公司始終密切關(guān)注商務(wù)服務(wù)、軟件開發(fā)行業(yè)發(fā)展的最新動態(tài),并與行業(yè)內(nèi)知名企業(yè)建立了良好、長期穩(wěn)定的合作關(guān)系,為客戶提供最專業(yè)、最先進的ROHS儀。
延伸內(nèi)容
產(chǎn)品詳情介紹:膜厚測試儀校準方法
膜厚測試儀校準方法
1儀器校零
1.1將測量探頭壓在鐵基上(或不帶涂層的測量體上),滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時,測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意,只有在按完ZERO鍵后,才能提起探頭,否則,校零不正確。
1.2將測量探頭提起(或不帶涂層的測量體上),觀察鐵基上的測量值,若測量值在0附近,說明校零成功,否則,應(yīng)得新校零。
2儀器校滿度
2.1根據(jù)要測量的涂層厚度,選擇 適當?shù)臉藴誓て?,進行滿度校準。
2.2先將標準膜片放在鐵基上(或不帶涂層的測量體上)。
C2.3再將測量探頭壓在標準膜片上,測量值就顯示在顯示器上,若測量值與標準膜片不同,測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時,測量探頭一定提起,否則,按加1鍵或減1鍵無效。
2.4為保證校滿度的準確性,可通過多次測同一標準膜片來驗證。
   禾苗分析在全國建有強大的XRF、鹵素檢測儀售后服務(wù)網(wǎng)絡(luò),多名技術(shù)顧問及售后工程師遍及全國各地區(qū),能為用戶提供優(yōu)質(zhì)、高效的服務(wù)保證。禾苗HELEEX鍍層測厚儀經(jīng)多年市場驗證,提供從報價到售后服務(wù)全程跟蹤的一條龍服務(wù),求購最具前景的XRF、鹵素檢測儀,選擇禾苗分析,歡迎訪問官網(wǎng):heleex。
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