禾苗分析專注于ROHS儀的研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)，提供各類XRF、ROHS測試儀、合金分析儀，品類齊全、技術(shù)領(lǐng)先、性價比高，目前公司已在國內(nèi)核心城市設(shè)立常駐銷售與服務(wù)網(wǎng)點。詳情請咨詢張先生18319999072。

   “吸納優(yōu)秀人才、構(gòu)筑專業(yè)團隊、提供高端服務(wù)”是禾苗分析的宗旨；“渴望了解客戶的每一個需求，用心服務(wù)客戶的每一個環(huán)節(jié)，全力支持客戶的每一步發(fā)展”是禾苗分析的服務(wù)理念。深圳市禾苗分析儀器有限公司愿意充分發(fā)揮自身的禾苗HELEEX品牌優(yōu)勢，通過自己勤奮、認真負責、具有開拓性的工作，為廣大客戶提供最完美的RoHS檢測產(chǎn)品及服務(wù)。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應(yīng)得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓てM行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   在科技不斷更新的今天，禾苗分析人秉承專業(yè)鑄造品牌，貼心服務(wù)客戶的宗詣，正以滿腔熱忱迎接新時代的挑戰(zhàn)。想要了解更多關(guān)于合金分析儀、鹵素檢測儀x2034d9n的信息，請訪問：heleex。