禾苗分析專注于ROHS測試儀的研發、設計、生產，提供各類光譜儀x2034d9n、膜厚分析儀、鹵素檢測儀，品類齊全、技術領先、性價比高，目前公司已在國內核心城市設立常駐銷售與服務網點。詳情請咨詢張先生18319999072。

   創新是深圳市禾苗分析儀器有限公司成功的基石。在未來，禾苗分析也希望不斷地創新，為廣大顧客提供膜厚分析儀服務。多年來，禾苗分析始終相信只有堅持創新和專業，才能更好的滿足客戶對最常用的XRF的需求。 延伸拓展 詳情介紹：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據要測量的涂層厚度，選擇 適當的標準膜片，進行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   經過多年來的不懈努力，深圳市禾苗分析儀器有限公司形成了以儀器儀表服務為主導、集最常用的XRF與最新推出的鹵素檢測儀為一體的經營模式，鑄造了一個“與時俱進、團結協作、勤奮敬業、開拓進取”的員工團隊。在新的發展階段，謀求更快、更大發展，需要禾苗分析傳承者與時代同步、不斷超越。更多公司服務詳情，敬請撥打熱線：0755-96219363，或登錄公司官網：heleex。