深圳市禾苗分析儀器有限公司是一家以rohs測試儀有輻射嗎、X熒光光譜儀x2034d9n和合金分析儀為主要業(yè)務的公司。我們致力于提供有優(yōu)質的ROHS測試儀服務。深圳市禾苗分析儀器有限公司成立于2012-06-05，作為一家社會責任感強的公司，禾苗分析將依托強大的實力，在鍍層測厚儀器領域內樹立最具口碑的品牌形象。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司秉承“責任、誠信、務實、共贏”的價值觀，以“幸福員工、成就客戶、引領產(chǎn)業(yè)”為共同使命，長期立足于xrf測試rohs的儀器、手持式xrf測試儀、穩(wěn)定的XRF、推薦的ROHS測試儀等事業(yè)領域，通過創(chuàng)造充滿活力的創(chuàng)新企業(yè)，致力于成為推動社會進步的重要力量。 延伸拓展 詳情介紹：膜厚測試儀校準方法 膜厚測試儀校準方法 1儀器校零 1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。 1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。 2儀器校滿度 2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇 適當?shù)臉藴誓てM行滿度校準。 2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。 C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。 2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   經(jīng)過多年來的不懈努力，深圳市禾苗分析儀器有限公司形成了以儀器儀表服務為主導、集推薦的ROHS測試儀與rohs測試儀多少錢為一體的經(jīng)營模式，鑄造了一個“與時俱進、團結協(xié)作、勤奮敬業(yè)、開拓進取”的員工團隊。在新的發(fā)展階段，謀求更快、更大發(fā)展，需要禾苗分析傳承者與時代同步、不斷超越。更多公司服務詳情，敬請撥打熱線：0755-96219363，或登錄公司官網(wǎng)：heleex。