儀器介紹 2010年5月11日，值2010中國國際鑄造博覽會在北京新國際展覽中心舉行之際，高性能、緊湊型Q2 ION直讀光譜儀隆重發布，德國Bruker Elemental GmbH總經理Andreas Kunz先生、亞太地區銷售總監Yong Teck Lee先生以及利曼中國(Leeman China)總經理黃林玉先生、產品經理陳應華先生共同主持了新產品發布。 Q2 ION是現今市場上最為輕巧的高性能直讀光譜儀。源自顛覆性的設計理念，緊湊的體積和強大的分析功能得以完美地融合。Q2 ION可同時配備多種基體，適用于金屬行業中的來料檢驗及質量控制。Q2在許多應用，例如鐵基、鋁基和銅基材料的分析中涵蓋所有的重要元素，能夠很好地滿足中小鑄造企業，金屬加工企業，質量管理部門，原料堆放倉庫，金屬回收企業，甚至檢測機構的分析要求. 主要特點 獨特的設計使得Q2 ION的重量只有不到20kg，可輕易攜帶到周邊的場所進行現場分析工作。除此之外，儀器還有專用配套的行李箱可供用戶選擇，以方便儀器的攜帶及運輸。 Q2 ION采用了最新專利技術—平面視場CCD光學系統，該技術使得Q2 ION的設計突破了傳統光譜的桎梏。光學系統所配備的動態溫度補償技術（AAC），確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性。 創新點 Q2直讀光譜儀采用了許多最新的技術，是一臺科技含量非常高的儀器，主要有以下幾個方面。 （1）平面視場CCD光學系統 Q2直讀光譜儀采用了布魯克的最新專利技術——平面視場CCD光學系統，通過該技術可以直接將色散后的所有譜線聚焦于線狀CCD上，并完整收集所有譜線信息。此外Q2使用的是最新一代的非鍍膜CCD檢測器，該檢測器性能不會受涂層的影響，并可以延長使用壽命。 （2）動態溫度補償技術 在Q2直讀光譜儀中還采用了一項新技術——動態溫度補償技術（AAC），在光譜儀的設計中，保證所有材料的熱脹冷縮系數嚴格匹配，確保了儀器即便在10℃至45℃的外界溫度變化下也具有極其優異的穩定性，該技術的應用簡化了儀器結構，提升了儀器性能，開創了光譜儀全新的設計理念。