廈門普瑞盛電子科技有限公司專業(yè)提供光譜型橢偏儀，可聯(lián)系廈門總公司，福州辦事處 成本低 易于安裝 基于視窗結構的軟件，很容易操作 先進的光學設計，以確保能發(fā)揮出最佳的系統(tǒng)性能 高功率的DUV－VIS光源，能夠應用在很寬的波段內 基于陣列設計的探測器系統(tǒng)，以確保快速測量 最多可測量12層薄膜的厚度及折射率 系統(tǒng)配備強大的光學常數(shù)數(shù)據(jù)庫 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用先進的TFProbe3.3軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進行色散或者有效介質近似模型（EMA）測量分析； 能夠應用于測量不同厚度、不同類型的基片 用于實現(xiàn)諸如數(shù)字成像、自動mapping臺、波長擴展、聚焦光斑等功能的各種可選項以及附件 應用領域 半導體制造（PR，Oxide， Nitride..) · 光學涂層，TiO2， SiO2， Ta2O5... .. · 液晶顯示（ITO，PR，Cell gap... ..） · 薄膜晶體管TFT上的層堆疊 · 醫(yī)療器械上的涂層 · 用在 MEMS/MOEMS領域的功能性薄膜 · 非晶體，納米材料和結晶薄膜 · 薄金屬膜