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 1）光電探測器參數自動測試系統為易捷測試專門為PD類光電探測器芯片開發的一套完整集IV、CV、光響應度等測試應用一站式在片測試系統。主要應用于解決PD類芯片的研發和自動化篩選測試。系統集成的源自于易捷測試在光電模塊、光電器件到封裝以及探針臺領域多年的測試經驗。
 2）伴隨400G、100G通信的到來，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件從特征性能都需要極大提高。從芯片到封裝好的器件特征必須通過相應的參數來衡量相應的O/E和E/O參數。如3dB帶寬、S參數、光波長響應度，深圳市易捷測試技術有限公司，易捷測試技術，接收靈敏度等。該系統就是集成矢網、光調制器、光校準件、探針臺，可對O/E，E/O芯片、封裝好的器件特征參數進行測試
 


 1）B1500A
 2)B2901A
 3)E4980A/AL
 4)N7744A
 5)N4373D
 6)N7786B
 7)ES操作系統
 8）TS2000
 17）PHA-X
 18）G-O4766A
 19）G-OR
 20）G-CCAF
 21）TS3000-Siph
 


 1）半導體參數分析儀
 2)電源/測量單元
 3)LCR表
 4)光功率計
 5)光波元器件分析儀
 6)偏振綜合儀
 7)光電探測器參數自動測試系統
 8）自動探針臺
 9）光學測試和測量平臺，經過優化，可以經濟高效地開發和制造光傳輸網絡元件。
 10）為光學器件和子系統開發和制造中的光學測試切換和信號調理提供靈活，主性價比測試平臺
 11）光學開關解決方案
 12（光信號調節器）
 13（光連接器和無源件測試）
 14（光功率和光譜測量）
 15（光信號交換和路由）
 16（寬帶光源和放大器）
 17（網絡分析儀）
 18（光調制器）
 19（光接收機）
 20（連接的電纜和光纖）
 21(全自動硅光子器件特性專用探針臺系統）

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