美國博曼(BOWMAN)X射線熒光膜厚測試儀應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀 分析:詳述.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管.探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素,BOWMAN膜厚儀高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘,所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量:單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ,應用于端子,連接器,細小的金線,在五金,汽車配件.線路板.衛浴,等行業
半導體美國BOWMAN X射線熒光膜厚測試儀:詳述
1.元素范圍:鋁13到鈾92。
2.x射線激發能量:50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管
3.探測器:硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測量的分析層和元素:5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素
4.過濾器/準直器:4個初級濾波器與4個電動準直器(0.1 0.2 0.3 1.5mm)
5.聚焦:多固定聚焦與激光系統
數字脈沖處理:4096 多通道數字分析器與自動信號處理,包括X射線時間修正和防X射線積累
6.電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內存,微軟Windows 7 專業64位等效
7.鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
8.電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
9.工作環境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無冷凝水
10.重量:32公斤
11.內部尺寸:高:140毫米(5.5“),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
12.外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24)