半導體美國博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀　應用領域：
　　1、分析電子部品電鍍層的厚度
　　2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
　　3、各鍍層的成分比例分析。

美國原裝博曼（BOWMAN）X射線熒光膜厚測試儀應用領域于分析電子部品電鍍層的厚度 ，各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析，各鍍層的成分比例分析等。美國原裝博曼膜厚儀用于高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數秒鐘，所有從13號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層、二元合金層、三元合金層、雙鍍層等 ，應用于端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板，衛浴，等行業，使用安全簡便，堅固耐用節省維護費用，高分辨率探測器硅PIN檢測器250 ev，配合快速信號處理系統能達到極高的精確度和非常低的檢測限

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