進(jìn)口顯微鏡牌子
受激發(fā)射損耗(STED)顯微鏡是一個(gè)快速、直觀和純光學(xué)的成像方法。它可以用于研究納米級(jí)的亞細(xì)胞結(jié)構(gòu)和細(xì)胞動(dòng)力學(xué)。STED超高分辨率成像能夠滿足日常研究要求。而且憑借優(yōu)異的活細(xì)胞成像能力，可發(fā)現(xiàn)微小細(xì)節(jié)。TCSSP8STED3X支持完整的可見(jiàn)光譜，從而為您在所有維度進(jìn)行超高分辨率成像提供了無(wú)限可能。
推動(dòng)您科學(xué)研究的新技術(shù)
在x、y和z中靈活可調(diào)的直接超分辨率，展示了zui精細(xì)的細(xì)節(jié)信息。
多條STED光線實(shí)現(xiàn)了可見(jiàn)光的全光譜超高分辨率成像。
門控檢測(cè)提高了分辨率以及活細(xì)胞性能。
STED白色物鏡為全光譜范圍提供zui佳色差校正。
自動(dòng)光束校準(zhǔn)保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性和結(jié)果的可靠性。
基于TCSSP8的模塊化設(shè)計(jì)可隨時(shí)升級(jí)。
智能STED向?qū)Э芍庇^地控制實(shí)驗(yàn)。
惠更斯反卷積可以從原始數(shù)據(jù)中獲取更多信息。
3X-在三個(gè)關(guān)鍵領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)突破性的創(chuàng)新 
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